[发明专利]X射线显像管的失真校正装置无效

专利信息
申请号: 200680001942.5 申请日: 2006-11-09
公开(公告)号: CN101103431A 公开(公告)日: 2008-01-09
发明(设计)人: 高桥淳一;君岛隆之;小高健太郎 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝电子管器件株式会社
主分类号: H01J31/50 分类号: H01J31/50
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 沈昭坤
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 利用磁场传感器(32)检测从X射线显像管(11)的外部进入电子透镜区域(23)内的外部磁场(m),利用配置在X射线显像管(11)的输入面区域(21)的线圈(33),产生抵消外部磁场(m)的磁场,除去外部磁场(m)的影响,校正失真。磁场传感器(32)配置在X射线显像管(11)的用磁屏蔽(20)包围的区域,而且配置在从X射线显像管(11)的输入面区域(21)离开的电子透镜区域(23)一侧的外周区域。磁场传感器(32)减少配置在X射线显像管(11)的输入面区域(21)一侧的线圈(33)产生的磁场的影响,高精度检测进入电子透镜区域(23)内的外部磁场(m)。因而,在X射线显像管(11)的失真校正装置(31)中,能够自动校正失真。
搜索关键词: 射线 显像管 失真 校正 装置
【主权项】:
1.一种X射线显像管的失真校正装置,用磁屏蔽覆盖具有输入面、电子透镜、以及输出面的真空外壳,其特征在于,具备:配置在所述X射线显像管的用磁屏蔽包围同时不遮挡入射至输入面的X射线的区域而且与从所述X射线显像管的外部进入电子透镜区域内的外部磁场的强度成为相同的磁场强度的区域、检测出从所述X射线显像管的外部进入电子透镜区域内的磁场的磁场传感器;配置在所述X射线显像管的输入面区域一侧、产生抵消从所述X射线显像管的外部进入电子透镜区域的外部磁场的磁场的磁场发生部;以及根据所述磁场传感器对外部磁场的检测、利用所述磁场发生部产生抵消外部磁场的磁场的控制部。
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