[发明专利]使用MRAM传感器的磁存储系统无效
申请号: | 200680002886.7 | 申请日: | 2006-01-19 |
公开(公告)号: | CN101167136A | 公开(公告)日: | 2008-04-23 |
发明(设计)人: | 弗里斯科·J·耶德玛;汉斯·M·B·波依;亚普·鲁伊戈罗克 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
主分类号: | G11C11/16 | 分类号: | G11C11/16 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 朱进桂 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种磁存储系统(1、20),包括信息层(13)以及用于和信息层(13)进行合作的传感器(2、22)。信息层(13)包括组成比特位置阵列的磁比特(4a、4b、4c、4d、24a、24c、24d)图案。比特位置处的比特磁场(3a、3b、3c、3d)表示逻辑值(L0、L1/2、L1)。传感器(2、22)包括磁电阻元件(6、26),磁电阻元件(6、26)包括固定磁性层(7)和自由磁性层(8)。自由磁性层(8)具有磁化轴(10),自由磁性层沿着该磁化轴保持自由磁化方向(11b、11c、21b、21c)。通过提供由大致与磁化轴(10)平行的自由磁化方向(11c、11b、21b、21c)所引起的磁电阻元件(6、26)中的第一电阻值(Rmax、Rmid、Rmin),在比特位置中的一个处的第一比特磁场(3b、3c)表示第一逻辑值(L0、L1/2、L1)。通过提供由与磁化轴(10)呈某个角度(12a、12d、27)的自由磁化方向(11a、11d、21a、21d)所引起的磁电阻元件(6、26)中的第二电阻值(Rmax、Rmid、Rmin),在比特位置中的一个处的第二比特磁场(3a、3d)表示第二逻辑值(L0、L1/2、L1)。提供第二电阻值(Rmax、Rmid、Rmin)的第二比特磁场(3a、3d)不是自由磁性层(8)的两个稳定的磁化方向之一,因而与第一电阻值(Rmax、Rmid、Rmin)不同。不再需要在读出前对传感器(2、22)的自由磁性层(8)的磁化方向进行设置。 | ||
搜索关键词: | 使用 mram 传感器 存储系统 | ||
【主权项】:
1.一种磁存储系统(1、20),包括信息层(13)以及用于和信息层(13)进行合作的传感器(2、22),信息层(13)包括组成比特位置阵列的磁比特(4a、4b、4c、4d、24a、24c、24d)图案,比特位置处的比特磁场(3a、3b、3c、3d)表示逻辑值(L0、L1/2、L1),比特磁场(3a、3b、3c、3d)具有比特磁场强度和比特磁化方向(5a、5b、5d、25a、25d),传感器(2、22)包括磁电阻元件(6、26),磁电阻元件(6、26)包括具有固定磁性层(7)和自由磁性层(8)的叠层,固定磁性层(7)具有固定磁化方向(9),自由磁性层(8)具有磁化轴(1 0),自由磁性层沿着该磁化轴保持自由磁化方向(11b、11c、21b、21c),其中,通过提供由大致与磁化轴(10)平行的自由磁化方向(11c、11b、21b、21c)所引起的磁电阻元件(6、26)中的第一电阻值(Rmax、Rmid、Rmin),在比特位置中的一个处的第一比特磁场(3b、3c)表示第一逻辑值(L0、L1/2、L1),并通过提供由与磁化轴(10)呈某个角度(12a、12d、27)的自由磁化方向(11a、11d、21a、21d)所引起的磁电阻元件(6、26)中的第二电阻值(Rmax、Rmid、Rmin),在比特位置中的一个处的第二比特磁场(3a、3d)表示第二逻辑值(L0、L1/2、L1)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于NXP股份有限公司,未经NXP股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200680002886.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种大功率LED射灯
- 下一篇:具有双导流装置的餐具洗涤烘干机