[发明专利]测试装置和测试方法无效
| 申请号： | 200680009100.4 | 申请日： | 2006-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN101147206A | 公开（公告）日： | 2008-03-19 |
| 发明（设计）人： | 新岛启克;佐藤新哉 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C16/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的目的在于比传统方法更有效地测试多个被测试存储器。本发明提供测试多个被测试存储器的测试装置。该测试装置包括：与多个被测试存储器的数据输入输出端子通过总线相连、与数据输入输出端子之间发送接收数据的数据输入输出部；经由数据输入输出部、向多个被测试存储器并行地提供测试数据的测试数据提供部；与测试数据的提供同步、向多个被测试存储器并行地提供可写入信号的写入控制部；为多个被测试存储器的每个连续地提供可读取信号的读取控制部；将从各个被测试存储器连续读出的测试数据与期待值进行比较的比较部；以某一测试数据与期待值不一致为条件，检测对输出了该测试数据的被测试存储器写入失败的检测部。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，是测试多个被测试存储器的测试装置，其特征在于包括：与所述多个被测试存储器的输入输出端子通过总线相连、与所述数据输入输出端子之间发送接收数据的输入输出部；经由所述数据输入输出部，向所述多个被测试存储器并行地提供测试数据的测试数据提供部；通过与所述测试数据的提供同步，向所述多个被测试存储器并行地提供可写入信号，对所述多个被测试存储器并行地写入所述测试数据的写入控制部；通过分别对所述多个被测试存储器连续地提供可读取信号，经由所述数据输入输出部，分别从所述多个被测试存储器连续地读取所述测试数据的读取控制部；分别从多个被测试存储器连续地读取的所述测试数据和期待值相比较的比较部；以某一所述测试数据与期待值不一致为条件，检测对输出了该测试数据的所述被测试存储器的写入不良的检测部。
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