[发明专利]测试准备RF集成电路无效
| 申请号： | 200680010496.4 | 申请日： | 2006-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN101151545A | 公开（公告）日： | 2008-03-26 |
| 发明（设计）人： | 西塞罗·S·沃谢 | 申请（专利权）人： | NXP股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/28 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 朱进桂 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种集成电路(10)，包括混频电路(14，54a)和本地振荡器电路(18，58)。在测试过程中，集成电路(10)中的分频器电路(32，60)将本地振荡器信号分频至低于本地振荡器(18，58)的正常运行范围的频率。在测试过程中，集成电路向混频电路(14，54a)施加分频的本地振荡器信号，而不是本地振荡器信号。在将分频的本地振荡器信号施加于混频电路(14，54a)期间，测量从混频电路(14，54a)导出的信号的性质。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 准备 rf 集成电路 | ||
【主权项】：
1.一种可切换到正常运行模式和测试模式的测试准备集成电路(10)，所述测试准备集成电路(10)包括：-用于提供测试控制信号的测试控制输入(102)，该测试控制信号指示集成电路(10)应运行在正常运行模式下还是测试模式下；-具有本地振荡器输出的本地振荡器电路(18，58)；-混频电路(14，54a)；-分频器电路(32，60)，输入与本地振荡器输出以及分频器输出相连；-复用电路(30，62ab)，信号输入与本地振荡器输出以及分频器输出相连，输出与混频电路(14)相连，复用电路(30，62ab)还具有与测试控制输入(102)相连的控制输入，复用电路(30，62ab)被设置成在正常运行模式下将本地振荡器输出与混频电路(14)相连，而在测试模式下将分频器输出代替本地振荡器输出与混频电路(14)相连。
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