[发明专利]利用个别验证来软编程非易失性存储器和额外软编程存储器单元的子组有效

专利信息
申请号: 200680010518.7 申请日: 2006-03-29
公开(公告)号: CN101218651A 公开(公告)日: 2008-07-09
发明(设计)人: 格里特·简·赫民克;龟井辉彦 申请(专利权)人: 桑迪士克股份有限公司
主分类号: G11C16/34 分类号: G11C16/34
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 代理人: 刘国伟
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 将一组非易失性存储元件划分为子组进行软编程,以便更完全地软编程较慢的软编程元件。所述整个组的元件经软编程,直到被验证为经软编程为止(或直到第一子组元件被验证为经软编程,同时从验证中排除第二子组为止)。在所述组被验证为经软编程之后,第一子组元件被抑制进一步软编程,同时对第二子组元件实施额外的软编程。第二子组可包含较慢的软编程元件。第二子组可接着经历软编程验证,同时从验证中排除所述第一子组。针对所述第二子组的软编程和验证可持续,直到其被验证为经软编程为止。取决于哪一子组正经软编程和验证,可使用不同的步长大小以增加软编程信号的大小。
搜索关键词: 利用 个别 验证 编程 非易失性存储器 额外 存储器 单元
【主权项】:
1.一种非易失性存储器系统,其包括:一组非易失性存储元件,所述组包含第一子组的非易失性存储元件和第二子组的非易失性存储元件;以及管理电路,其与所述组非易失性存储元件通信,所述管理电路通过以下操作对所述组非易失性存储元件进行软编程:向所述组的每一非易失性存储元件施加一个或一个以上软编程脉冲,直到所述组被验证为经软编程为止,在所述组被验证为经软编程之后,抑制对所述第一子组的非易失性存储元件的软编程,以及向所述第二子组的非易失性存储元件施加一个或一个以上额外软编程脉冲,同时抑制对所述第一子组的软编程。
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