[发明专利]用于免疫测定的相位差正交干涉测量检测的方法和设备

摘要

一种用于测定样品中有无靶分析物的相位差正交干涉测量方法，包括使用波长为λ、腰斑半径为ω的光束检测具有暴露给样品的反射表面的至少一部分基层。反射表面包括至少第一区域和第二区域。所述方法还包括在探测第一区域和第二区域时测量探测光束的反射衍射信号的一对正交角θ_q中的一个处的基本仅第一正交的光电检测器上的时间依赖强度。一种用于检测平面阵列上是否存在靶分子的相位差正交干涉测量的装置，包括用于产生探测光束的激光源、用于容纳平面阵列的平台以及在平台处以基本表面正交方式引导探测光束的第一光学组件。所述装置还包括具有第一侧面、第二侧面以及焦距的物镜。所述装置还包括用于测量第一正交和第二正交的分式光电检测器装置。

主权项

1.一种检测生物样品中有无靶分析物的无标记相位差正交干涉测量方法，所述方法包括：将基层的反射表面暴露给所述生物样品，所述反射表面具有受体分子覆盖层的空间图样，每一覆盖层特定于特定的靶分析物；使用分式光电检测器测量反射信号的远场衍射图样的强度，所述反射信号由聚焦探测激光束所产生，所述聚焦探测激光束的波长为λ，在扫描至少一部分所述基层时以腰斑半径w0入射到受体分子覆盖层的空间图样上；其中通过采用分式光电检测器测量两个观察角度的至少一个的强度来测量在基本正交条件下所述反射信号的一部分的强度，所述两个观察角度与一对正交角基本相等，所述正交角θq由正交于所述基层的光线通过以下公式来定义：θq＝sin-1(λ/2w0)。