[发明专利]MIM电容器及其制造方法有效
申请号: | 200680012051.X | 申请日: | 2006-04-07 |
公开(公告)号: | CN101160655A | 公开(公告)日: | 2008-04-09 |
发明(设计)人: | C·杨;L·A·克莱文格;T·J·达尔顿;L·C·苏 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L21/8242 | 分类号: | H01L21/8242;H01L21/20 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 于静;杨晓光 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种镶嵌MIM电容器以及制造所述MIM电容器的方法。所述MIM电容器包括具有顶和底表面的介质层;所述介质层中的沟槽,所述沟槽从所述顶表面延伸到所述介质层的所述底表面;包括沿所述沟槽的底延伸并在所有侧壁上形成的保形导电衬里的MIM电容器的第一板,所述沟槽的所述底与所述介质层的所述底表面共面;在所述保形导电衬里的顶表面之上形成的绝缘层;以及包括与所述绝缘层直接物理接触的芯导体的MIM电容器的第二板,所述芯导体填充所述沟槽中未被所述保形导电衬里和所述绝缘层填充的空间。所述方法包括与镶嵌互连布线同时地形成所述MIM电容器的各部分。 | ||
搜索关键词: | mim 电容器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种结构,包括:介质层,在半导体衬底的顶表面上,所述介质层具有顶表面和底表面;沟槽,在所述介质层中,所述沟槽从所述顶表面延伸到所述介质层的所述底表面;MIM电容器的第一板,其包括沿所述沟槽的底延伸并在所有侧壁上形成的保形导电衬里,所述沟槽的所述底与所述介质层的所述底表面共面;绝缘层,形成在所述保形导电衬里的顶表面之上;以及MIM电容器的第二板,其包括与所述绝缘层直接物理接触的芯导体,所述芯导体填充所述沟槽中未被所述保形导电衬里和所述绝缘层填充的空间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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