[发明专利]MIM电容器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200680012051.X 申请日: 2006-04-07
公开(公告)号: CN101160655A 公开(公告)日: 2008-04-09
发明(设计)人: C·杨;L·A·克莱文格;T·J·达尔顿;L·C·苏 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L21/8242 分类号: H01L21/8242;H01L21/20
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 于静;杨晓光
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种镶嵌MIM电容器以及制造所述MIM电容器的方法。所述MIM电容器包括具有顶和底表面的介质层;所述介质层中的沟槽,所述沟槽从所述顶表面延伸到所述介质层的所述底表面;包括沿所述沟槽的底延伸并在所有侧壁上形成的保形导电衬里的MIM电容器的第一板,所述沟槽的所述底与所述介质层的所述底表面共面;在所述保形导电衬里的顶表面之上形成的绝缘层;以及包括与所述绝缘层直接物理接触的芯导体的MIM电容器的第二板,所述芯导体填充所述沟槽中未被所述保形导电衬里和所述绝缘层填充的空间。所述方法包括与镶嵌互连布线同时地形成所述MIM电容器的各部分。
搜索关键词: mim 电容器 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种结构,包括:介质层,在半导体衬底的顶表面上,所述介质层具有顶表面和底表面;沟槽,在所述介质层中,所述沟槽从所述顶表面延伸到所述介质层的所述底表面;MIM电容器的第一板,其包括沿所述沟槽的底延伸并在所有侧壁上形成的保形导电衬里,所述沟槽的所述底与所述介质层的所述底表面共面;绝缘层,形成在所述保形导电衬里的顶表面之上;以及MIM电容器的第二板,其包括与所述绝缘层直接物理接触的芯导体,所述芯导体填充所述沟槽中未被所述保形导电衬里和所述绝缘层填充的空间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国际商业机器公司,未经国际商业机器公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200680012051.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top