[发明专利]具有改进的图像传感器阵列的粒子计数器无效

专利信息
申请号: 200680015201.2 申请日: 2006-06-02
公开(公告)号: CN101189502A 公开(公告)日: 2008-05-28
发明(设计)人: 托德·A·切尔尼;德怀特·A·细勒尔 申请(专利权)人: 粒子监测系统有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 李德山;杨林森
地址: 美国科*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种用于光学检测在流动流体中悬浮的不受约束的粒子的粒子计数器(200),包括:采样室(240),其具有流体入口和流体出口;产生激光束(212)的激光器组件(201);束成形光学系统(228),其在采样室中提供多激光束图案;以及CMOS光学检测器,其被设置用以检测采样室中的粒子散射的光,该检测器产生以粒子的参数为特征的电信号。粒子计数器在采样室内具有粒子感测区域,在该粒子感测区域中光的强度至少为10瓦/毫米2并且该粒子感测区域具有0.5平方毫米或者更大的面积。检测器具有三十个或者更多个检测器阵列单元。激光光学系统反射和重聚焦激光束以实现相同激光束多次穿过感测区域。
搜索关键词: 具有 改进 图像传感器 阵列 粒子 计数器
【主权项】:
1.一种光学粒子计数器(200,300),用于光学检测在流动流体中悬浮的尺寸小于一微米的不受约束的粒子(417),所述光学粒子计数器包括:采样室(178,240,345),其具有流体入口(286)和流体出口(287,288);光源(201,330);光引导光学系统(170,228,310&315),其将所述光引导通过所述采样室;光学采集系统(270,350),其被设置用以采集在流过所述采样室的所述流体中的所述粒子散射的光;以及检测系统(280,360,440),其被设置用以检测所述光学采集系统所采集的光,所述检测系统包括光学检测器(282,363,423),所述光学检测器产生以检测到的尺寸小于一微米的所述粒子的数目为特征的电信号;其中所述光学检测器包括CMOS成像器。
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