[发明专利]示差折射率的测量装置无效

专利信息
申请号: 200680015571.6 申请日: 2006-05-11
公开(公告)号: CN101171503A 公开(公告)日: 2008-04-30
发明(设计)人: 时枝常美 申请(专利权)人: 昭和电工株式会社
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41;G01N21/03;G01N21/05
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 杨晓光;李峥
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种用于液相色谱仪的示差折射率测量装置,该装置能大大地提高灵敏度同时对样本的折射率差能快速地响应,提供示差折射率探测器以及使用所述装置和探测器的示差折射率测量方法。所述示差折射率的测量装置具有流动室,根据参考液和样本液之间的折射率差使测量束偏转,用来基于在所述参考液和样本液之间穿过的所述测量束的折射率差,测量偏转角的变化,其中,所述流动室由三个独立的腔构成,包括第一腔、与所述第一腔相邻的第二腔、以及与所述第二腔相邻的第三腔。
搜索关键词: 折射率 测量 装置
【主权项】:
1.一种示差折射率的测量装置,具有流动室以根据参考液和样本液之间的折射率差使测量束偏转,用来基于在所述参考液和样本液之间穿过的所述测量束的折射率差,来测量所述偏转角的变化,其中,所述流动室包括三个独立的腔,包括第一腔、与所述第一腔相邻的第二腔、以及与所述第二腔相邻的第三腔,以及所述测量束照射在所述流动室上,以便依次通过所述三个腔,其中所述三个腔的状态是,所述参考液在所述第一腔和第三腔中流动或密封,所述参照液在所述第二腔中流动或密封。
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