[发明专利]具有消反射电介质的集成电路电容器无效
申请号: | 200680015968.5 | 申请日: | 2006-03-09 |
公开(公告)号: | CN101563772A | 公开(公告)日: | 2009-10-21 |
发明(设计)人: | B·A·沃福德;B·R·帕斯克;X·陈;B·胡 | 申请(专利权)人: | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/8242 | 分类号: | H01L21/8242 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 赵蓉民 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明公开了一种电容器(100),其作为集成电路制造工艺的部分形成。电容器有导电的顶电极和底电极(140,144)和不导电的电容器电介质(142)。在一个示例中,该电介质包括第一和第二薄介电层(112,114),其中间夹有消反射材料层(118)。除了其它方面,这些薄层提供电容器必须的介电性能,同时通过减轻反射的驻波,消反射层促进特征结构尺寸的减小。 | ||
搜索关键词: | 具有 反射 电介质 集成电路 电容器 | ||
【主权项】:
1.一种形成集成电路的方法,其包括:提供半导体基片,所述半导体基片具有在其上形成的第一金属化层;在所述第一金属化层上形成消反射介电材料层;在所述消反射介电材料层上形成第二金属化层;和图案化所述第一金属化层、所述消反射介电材料层和所述第二金属化层,以提供电容器,所述电容器具有由所述第一金属化层形成的第一电极、由所述消反射介电材料层形成的电容器电介质和由所述第二金属化层形成的第二电极。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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