[发明专利]沉积方法和沉积设备无效
申请号: | 200680016100.7 | 申请日: | 2006-05-02 |
公开(公告)号: | CN101175869A | 公开(公告)日: | 2008-05-07 |
发明(设计)人: | 罗纳德·A·韦默 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | C23C16/455 | 分类号: | C23C16/455;C23C16/46 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 王允方 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明包括可在原子层沉积或化学气相沉积期间利用的沉积方法和设备。在半导体衬底堆叠与前驱物入口之间提供加热表面,且所述加热表面经配置以使得成问题的副反应发生在紧靠所述加热表面处而非在紧靠所述半导体衬底处。所述前驱物入口可以是多个前驱物入口中的一者,且所述加热表面可以是多个加热表面中的一者。 | ||
搜索关键词: | 沉积 方法 设备 | ||
【主权项】:
1.一种沉积方法,其包含:在沉积设备的反应腔室内提供半导体衬底堆叠;在所述反应腔室内将所述半导体衬底加热到第一温度;在所述反应腔室内提供表面,所述表面被加热到至少大约所述第一温度;所述表面与所述半导体衬底堆叠间隔某一距离;以及使沉积材料朝向所述表面且此后朝向所述半导体衬底堆叠流动;所述沉积材料与所述加热表面相互作用,使得发生副反应;所述副反应产生一种或一种以上成问题的产物;所述加热表面与所述半导体衬底堆叠之间的距离足够大,使得所述一种或一种以上成问题的产物中大致上没有一者到达所述半导体衬底堆叠。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
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