[发明专利]用于分析被检体中目标物质的检查芯片和微型综合分析系统无效
| 申请号： | 200680016977.6 | 申请日： | 2006-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN101176001A | 公开（公告）日： | 2008-05-07 |
| 发明（设计）人： | 山东康博;中岛彰久;东野楠 | 申请（专利权）人： | 柯尼卡美能达医疗印刷器材株式会社 |
| 主分类号： | G01N35/08 | 分类号： | G01N35/08;G01N37/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 魏晓刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种检查芯片，包含有：(1)第一芯片，其具有收容试剂的微细流路、设置在所述微细流路上游侧的上游侧开口、设置在所述微细流路下游侧的下游侧开口、至少贴合在单面上且在使用前分别把所述上游侧开口和下游侧开口封住的一片或两片以上厚度薄的密封部件；(2)第二芯片，其具有把试剂与被检体汇合使反应并检测该反应的微细流路、设置在所述微细流路上游侧的开口，其中，在使用时把第一芯片与第二芯片重叠而使第一芯片的所述下游侧开口与第二芯片的所述开口对准位置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 被检体中 目标 物质 检查 芯片 微型 综合分析 系统 | ||
【主权项】：
1.一种检查芯片，其特征在于，包含有：第一芯片，其具有收容试剂的微细流路、设置在所述微细流路上游侧的上游侧开口、设置在所述微细流路下游侧的下游侧开口、至少贴合在单面上且在使用前分别把所述上游侧开口和下游侧开口封住的一片或两片以上厚度薄的密封部件；第二芯片，其具有使试剂与被检体汇合并反应，并检测该反应的微细流路、设置在所述微细流路上游侧的开口，在使用时通过把第一芯片与第二芯片重叠而使第一芯片的所述下游侧开口与第二芯片的所述开口对准位置。
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