[发明专利]具有光学耦合层的集成电路器件有效
| 申请号： | 200680022355.4 | 申请日： | 2006-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN101203783A | 公开（公告）日： | 2008-06-18 |
| 发明（设计）人： | S·M·斯皮莱恩;R·G·博索莱尔 | 申请（专利权）人： | 惠普开发有限公司 |
| 主分类号： | G02B6/122 | 分类号： | G02B6/122;G02B6/43 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘杰;王忠忠 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 描述了在包括集成电路层的垂直布置的集成电路器件(102)中，在其第一集成电路层(104)和第二集成电路层(106)之间耦合光信号(S1)。所述光信号(S1)在第一集成电路层(104)内在光子晶体缺陷波导(110)和光子晶体缺陷腔(112)之间瞬间耦合，并在第二集成电路层(106)上、在光子晶体缺陷腔(112)和光学孔径(116)之间进行投影式耦合。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 光学 耦合 集成电路 器件 | ||
【主权项】：
1.一种用于在包括集成电路层的垂直布置的集成电路器件(102)中，在其第一集成电路层(104)和第二集成电路层(106)之间耦合光信号(S1)的方法，包括：在第一集成电路层(104)内在光子晶体缺陷波导(110)和光子晶体缺陷腔(112)之间瞬间耦合光信号(S1)；和在第二集成电路层(106)上，在所述光子晶体缺陷腔(112)和光学孔径(116)之间投影式耦合光信号(S1)。
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