[发明专利]高纯度硅的制造方法无效
申请号: | 200680023138.7 | 申请日: | 2006-06-28 |
公开(公告)号: | CN101208267A | 公开(公告)日: | 2008-06-25 |
发明(设计)人: | 三枝邦夫;山林稔治 | 申请(专利权)人: | 住友化学株式会社 |
主分类号: | C01B33/033 | 分类号: | C01B33/033 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 孙秀武;李平英 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种高纯度硅的制造方法。高纯度的硅的制造方法是将下式(1)所示的卤化硅用铝还原制造硅的方法,作为还原剂使用的铝的纯度为99.9重量%以上。SiHnX4-n(1)(式中,n是0~3的整数,X是选自F、Cl、Br、I的1种或2种以上的卤原子。这里,铝的纯度是由100重量%减去铝中含有的铁、铜、镓、钛、镍、钠、镁和锌的总重量%得到的)。 | ||
搜索关键词: | 纯度 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种高纯度硅的制造方法,该方法是将下式(1)所示的卤化硅用铝还原制造硅的方法,作为还原剂使用的铝的纯度为99.9重量%以上,SiHnX4-n:(1)式中,n是0~3的整数,X是选自F、Cl、Br、I的1种或2种以上的卤原子,其中,铝的纯度是由100重量%减去铝中含有的铁、铜、镓、钛、镍、钠、镁和锌的总重量%得到的。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于住友化学株式会社,未经住友化学株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200680023138.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:控制混合电动车的电池充电水平的方法
- 下一篇:电子致失能设备