[发明专利]用于除去矿物中杂质的方法和磁性试剂有效
| 申请号： | 200680024256.X | 申请日： | 2006-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN101213621A | 公开（公告）日： | 2008-07-02 |
| 发明（设计）人： | S·A·拉维山卡;A·K·戈尔肯 | 申请（专利权）人： | CYTEC技术有限公司 |
| 主分类号： | H01F1/44 | 分类号： | H01F1/44;B03C1/01 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 韦东 |
| 地址： | 美国特*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 磁性试剂含有文中所定义的磁性微粒和通式(I)的化合物。该磁性试剂可用于除去矿物基质中杂质的磁分离方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 除去 矿物 杂质 方法 磁性 试剂 | ||
【主权项】：
1.一种通过磁分离对矿物基质进行选矿的方法，该方法包括：使矿物基质与磁性试剂相互混合，形成混合物；对所述混合物施加磁场，从而使有价值的矿物与无价值的矿物分离；其中所述磁性试剂包含多个磁铁矿微粒和通式(I)的化合物，(I)R-(CONH-O-X)n 所述通式(I)的化合物的分子量约等于或小于2000；n是1-3的整数；各X独立地选自H、M和NR′4；M是金属离子；R包含约1-50个碳；各R′独立地选自H、C1-C10烷基、C6-C10芳基和C7-C10芳烷基；所述多个磁铁矿微粒的平均粒度小于50微米；所述磁性试剂中存在的多个磁铁矿微粒和通式(I)的化合物的重量比为磁铁矿微粒∶通式(I)的化合物等于约10∶1至1∶10。
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