[发明专利]以电磁方式测量壁厚的装置无效
申请号: | 200680025499.5 | 申请日: | 2006-06-21 |
公开(公告)号: | CN101223413A | 公开(公告)日: | 2008-07-16 |
发明(设计)人: | M·马勒;U·霍夫曼;R·克拉普夫;T·切尔纳 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
主分类号: | G01B15/02 | 分类号: | G01B15/02;G01V3/12;G01B7/06 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 曹若 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种测量装置,具有发送单元(10,42),用于产生电磁的、穿透壁板(18)的测量场(12);具有接收单元(14),用于探测测量场(12)的至少一部分;并具有分析处理单元(16),用于对由接收单元(14)所探测到的信号(20)进行分析处理。本发明提出,分析处理单元(16)被设置用于求出测量场(12)沿着壁板(18)的位置关系的至少一个特征参数(t1-t3,t12,t13),并根据该特征参数(t1-t3,t12,t13)测定壁板(18)的壁厚(D)。 | ||
搜索关键词: | 电磁 方式 测量 装置 | ||
【主权项】:
1.测量装置,具有发送单元(10,42),用于产生电磁的、穿透壁板(18)的测量场(12);具有接收单元(14),用于探测测量场(12)的至少一部分;并具有分析处理单元(16),用于对由接收单元(14)所探测到的信号(20)进行分析处理,其特征在于,分析处理单元(16)被设置用于求出测量场(12)沿着壁板(18)的位置关系的至少一个特征参数(t1-t3,t12,t13),并根据该特征参数(t1-t3,t12,t13)确定壁板(18)的壁厚(D)。
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