[发明专利]用于使用异步微控制器测试集成电路的仿真和调试接口无效

专利信息
申请号: 200680025934.4 申请日: 2006-07-12
公开(公告)号: CN101223726A 公开(公告)日: 2008-07-16
发明(设计)人: 罗杰·F·舒特尔特;海尔特扬·约尔登斯;约勒姆·F·斯兰登博克 申请(专利权)人: NXP股份有限公司
主分类号: H04L1/24 分类号: H04L1/24;H04B3/46;G01R31/28
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 朱进桂
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 一种用于测试数据发射和接收系统的方法,所述方法包括:把来自系统的发射机(14)的测试信号发送至系统的接收机(12),并分析所接收到的信号。改变测试信号和系统的接收机所使用的定时信号之间的占空比关系,并分析所述占空比改变的影响。改变占空比关系提供了占空比失真(DCD),并且将该占空比失真认为是某种形式的嵌入的抖动插入。可以相对容易地测量这种类型的抖动。
搜索关键词: 用于 使用 异步 控制器 测试 集成电路 仿真 调试 接口
【主权项】:
1.一种用于测试数据发射和接收系统的方法,所述方法包括:把来自系统的发射机(14)的测试信号发送至该系统的接收机(12),并分析所接收到的信号,其中,所述方法包括:改变测试信号和该系统的接收机所使用的定时信号之间的占空比关系,并分析占空比改变的影响。
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