[发明专利]光信号接收装置、测试装置、光信号接收方法、测试方法、测试模块及半导体芯片无效

专利信息
申请号: 200680027622.7 申请日: 2006-07-19
公开(公告)号: CN101233704A 公开(公告)日: 2008-07-30
发明(设计)人: 冈安俊幸;渡边大辅 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: H04B10/02 分类号: H04B10/02;H04B10/00;H04B10/18;H04L25/03
代理公司: 北京英特普罗知识产权代理有限公司 代理人: 齐永红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种光信号接收装置,用于接收光信号,输出通过光信号传输的数码数据的数据值。该装置包括:接收光信号,输出对应光信号强度的光电流的受光元件;将与数码数据的现周期对应的光电流,进行周期内的规定期间积分的现周期积分器;将与现周期的前周期对应的光电流,在该周期中进行和规定的期间大致相等的期间积分的前周期积分器;根据现周期积分器积分的电荷量和前周期积分器积分的电荷量的差分,输出数码数据的现周期中的数据值的数据值识别电路。
搜索关键词: 信号 接收 装置 测试 方法 模块 半导体 芯片
【主权项】:
1.一种光信号接收装置,用于接收光信号,输出通过光信号传输的数码数据的数据值,其特征在于:包括,接收所述光信号,输出对应所述光信号的强度的光电流的受光元件;将与所述数码数据的现周期对应的所述光电流,进行周期内的规定期间积分的现周期积分器;将与所述现周期的前周期对应的所述光电流,在该周期中进行和规定的期间大致相等的期间积分的前周期积分器;根据所述现周期积分器积分的电荷量和所述前周期积分器积分的电荷量的差分,输出所述数码数据的所述现周期中的数据值的数据值识别电路。
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