[发明专利]测定仪器、测定装置和测定方法有效
| 申请号： | 200680028101.3 | 申请日： | 2006-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN101233407A | 公开（公告）日： | 2008-07-30 |
| 发明（设计）人： | 中南贵裕;龟井明仁;福永淳 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/03 | 分类号： | G01N21/03;G01N27/327;G01N21/59;G01N27/416 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 陈建全 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供用于分析试样中所含的待测物质的测定仪器，其具有如下构成：中空的基体、设置于基体的内部并用于保持试样的试样保持部、设置于基体上并与试样保持部连通的试样供给口、设置于试样保持部并用于进行光学测定的光学测定部、设置于试样保持部并用来保持用于光学测定的试剂的试剂保持部、和设置于基体的外表面上的电极。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 仪器 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.用于分析试样中所含的待测物质的测定仪器，其具备：中空的基体；设置于所述基体的内部并用于保持试样的试样保持部；设置于所述基体上并与所述试样保持部连通的试样供给口；设置于所述试样保持部上并用于进行光学测定的光学测定部；设置于所述试样保持部上并用来保持用于所述光学测定的试剂的试剂保持部；和设置于所述基体的外表面上的电极。
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