[发明专利]透镜表背面的光轴偏心量的测定方法有效
| 申请号： | 200680028125.9 | 申请日： | 2006-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN101233386A | 公开（公告）日： | 2008-07-30 |
| 发明（设计）人： | 中村胜重;三浦胜弘 | 申请（专利权）人： | 三鹰光器株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B11/00;G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张敬强 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及非球面透镜表背面的光轴偏心量的测定方法。利用激光探针测定在非球面透镜表背两面的各顶点的第一方向及第二方向的截面形状，以基于所测定针孔(共通基准点)的三维位置所决定的共通坐标系记述所测定的非球面透镜表背两面的截面形状。基于所测定的截面形状检测各顶点位置，以微米以下水平定量求出非球面透镜表背两面的相对偏心量。 | ||
| 搜索关键词： | 透镜 背面 光轴 偏心 测定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测定方法，测定非球面透镜的表背两面的光轴偏心量，其特征在于，包括如下步骤：在具有相互定位的三个以上基准点的支架上，定位具有第一面及第二面的非球面透镜；对于所述第一面，在所述支架的第一方向及第二方向分别以规定间距测定所述第一面的一维表面形状；在测定所述第一面的一维表面形状时的所述支架的位置，测定所述第一面侧的所述基准点的第一位置；对于所述第二面，在所述支架的第一方向及第二方向分别以规定间距测定所述第二面的一维表面形状；在测定所述第二面的一维表面形状时的所述支架的位置，测定所述第二面侧的所述基准点的第二位置；基于所测定的所述第一位置及第二位置，以同一三维坐标系记述所述非球面透镜的第一面的表面形状及所述非球面透镜的第二面的表面形状；以及，利用规定的表面形状对所述第一面的表面形状及所述第二面的表面形状进行拟合处理，由最佳拟合时的顶点位置和光轴的倾斜算出光轴偏心量。
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