[发明专利]沉积锗膜的方法无效

专利信息
申请号: 200680030684.3 申请日: 2006-06-22
公开(公告)号: CN101248209A 公开(公告)日: 2008-08-20
发明(设计)人: S·布拉德·赫纳 申请(专利权)人: 桑迪士克3D公司
主分类号: C23C16/22 分类号: C23C16/22;C23C30/00
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 代理人: 刘国伟
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种化学气相沉积方法提供平滑的连续锗膜层,其在充分较低的温度下沉积在金属衬底上以提供适于与例如铝和铜等温度敏感材料一起使用的锗装置。另一种化学气相沉积方法提供平滑的连续硅锗膜层,其在充分低的温度下沉积在二氧化硅衬底上以提供适于与例如铝、铜和硫族化物存储器材料等温度敏感材料一起使用的锗装置。
搜索关键词: 沉积 方法
【主权项】:
1.一种化学气相沉积方法,其包括:在320℃或更低的温度下使用第一催化气体以在金属衬底上沉积自限的硅膜层;以及在320℃或更低的温度下使用第二催化气体以在所述自限的硅膜层上沉积锗膜层。
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