[发明专利]试样供给状态的检测方法和分析用具有效

专利信息
申请号: 200680031837.6 申请日: 2006-08-29
公开(公告)号: CN101253405A 公开(公告)日: 2008-08-27
发明(设计)人: 小野田一辉;佐藤义治 申请(专利权)人: 爱科来株式会社
主分类号: G01N27/28 分类号: G01N27/28;G01N27/327;G01N27/416
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 刘春成
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及试样供给状态的检测方法和分析用具。分析用具(1)具备用于使试样移动的流路和具有用于与流路中供给的试样接触的活性部(15c、16c、16d)的工作电极(15)与对电极(16),且安装在分析装置中进行使用。对电极(16)的活性部(16c、16d)包括在流路内被分割的第一活性部分(16c)和第二活性部分(16d)。工作电极(15)和对电极(16)具有将分析用具(1)安装在分析装置中时与分析装置的端子接触的接触端部(15a、16a)。工作电极(15)和对电极(16)中的至少一个电极具备:具有接触端部(16a)和第一活性部分(16c)的第一电极部(16B),和具有第二活性部分(16d)的第二电极部(16C)。
搜索关键词: 试样 供给 状态 检测 方法 分析 用具
【主权项】:
1.一种试样供给状态的检测方法,其在使用分析用具对试样进行分析的情况下,检测是否对所述流路供给有必要量的试样,其中,该分析用具具备用于使试样移动的流路和用于向已被供给至所述流路中的试样施加电压并对施加电压时检测的检测电流进行测定的工作电极与对电极,该试样供给状态的检测方法的特征在于,包括:检测所述检测电流是否超过预先设定的阈值的第一步骤;在所述第一步骤中检测出所述检测电流超过所述阈值的情况下,在从所述检测电流超过所述阈值开始到经过一定时间的期间,检测所述检测电流的时间过程中的峰值的有无的第二步骤;在所述第二步骤中检测出所述峰值的情况下,检测在检测出所述峰值后的检测电流是否单调减少的第三步骤;和基于所述第一至第三步骤的检测结果,判断是否对所述流路适当供给有必要量的试样的第四步骤。
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