[发明专利]能储存高密度资料的高性能快闪存储器装置有效

专利信息
申请号: 200680033325.3 申请日: 2006-09-08
公开(公告)号: CN101263563A 公开(公告)日: 2008-09-10
发明(设计)人: 郭苕华;N·梁;杨念;王国威;A·李;S·钱德拉;M·A·范布斯科克;J·陈;D·汉密尔顿;李冰宽 申请(专利权)人: 斯班逊有限公司
主分类号: G11C16/12 分类号: G11C16/12;G11C5/14
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 戈泊
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供一种方法用于编程包含存储器单元(201)之阵列(102)之非易失性存储器阵列,其中各存储器单元(201)包括基板(310)、控制栅极(328)、电荷储存组件(322)、源极区域(203)及漏极区域(202)。该方法包括接收含有将在该阵列中被编程之预定数量之位的编程窗(programming window)(700),及判定该预定数量之位中哪几个位将于该存储器阵列中被编程(703)。该预定数量之位系同时被编程至该阵列中之对应的存储器单元(705)。该阵列中之该预定数量之位的编程状态系同时被验证(708)。
搜索关键词: 储存 高密度 资料 性能 闪存 装置
【主权项】:
1、一种非易失性存储器阵列的编程方法,该非易失性存储器阵列包括存储器单元(201)的阵列(102),每个存储器单元包含基板(310)、控制栅极(328)、电荷储存组件(322)、源极区域(203)及漏极区域(202),该方法包括下列步骤:接收含有在该阵列中待编程的预定数量的位的编程窗(700);判定该预定数量的位中哪几个位在该存储器阵列中待编程(703);同时编程该预定数量的位至该阵列中的对应的存储器单元(705);以及同时验证在该阵列中的该预定数量的位的编程状态(708)。
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