[发明专利]使用检验指示的电路设计校验有效
| 申请号： | 200680035587.3 | 申请日： | 2006-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN101273359A | 公开（公告）日： | 2008-09-24 |
| 发明（设计）人： | 贾森·M·诺曼;杰西·E·克雷格 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 黄小临 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本设计校验方法包括：提供电路设计；为电路设计产生激励树图，其中，激励树图包括L个激励、M个检验指示分叉和N个非检验指示分叉；执行激励树图，其中，所述执行激励树图包括，在i＝1，...，M的情况下，执行M个检验指示分叉中的第i个检验指示分叉，其中，执行第i个检验指示分叉又包括：(a)保存第i个模拟环境中的第i个上下文，在此模拟环境中进行所述执行激励树图的操作；(b)在进行了所述保存第i个上下文的操作之后，从第i个上下文开始，沿着从第i个检验指示分叉分支出来的、共有15个激励的激励树图的Pi个路径来执行，其中，第i个检验指示分叉是Pi路分叉，在此，Pi是大于1的整数。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 检验 指示 电路设计 校验 | ||
【主权项】：
1. 一种设计的校验方法，包括：提供电路设计；产生电路设计的激励树图，其中，激励树图包含L个激励，L是大于4的整数，其中，激励树图还包含M个检验指示分叉，M是大于1的整数，执行激励树图，其中，所述执行激励树图包括，对i＝1，...，M，执行M个检验指示分叉中的第i个检验指示分叉，其中，所述执行第i个检验指示分叉又包括：保存第i个模拟环境中的第i个上下文，在此模拟环境中进行所述执行激励树图的操作；在进行了所述保存第i个上下文的操作之后，从第i个上下文开始，沿着从第i个检验指示分叉上分支出来的激励树图的Pi个路径来执行，其中，第i个检验指示分叉是Pi路分叉，Pi是大于1的整数。
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