[发明专利]用于在启动序列期间检测非易失性存储器的电路和方法无效
| 申请号： | 200680036412.4 | 申请日： | 2006-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN101501661A | 公开（公告）日： | 2009-08-05 |
| 发明（设计）人： | 保罗·M·韦纳 | 申请（专利权）人： | 飞思卡尔半导体公司 |
| 主分类号： | G06F13/38 | 分类号： | G06F13/38 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 黄启行;穆德骏 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提出用于在处理器启动序列期间检测与计算装置相关联的非易失性存储(NVM)装置(321、323、325)的电路(500)和方法(600、700)。该NVM装置具有对应的起始地址(331、332、333)以及处理器在复位间隔之后从与第一NVM装置相关联的第一起始地址开始操作。电路包括NVM装置检测器，其通过从如果存在的NVM装置的每一个中的预定位置读取(512、514、516)包括标识符、码字、NVM大小或NVM类型的验证代码，来判定NVM装置是否存在。如果该NVM装置不存在，则检测器返回指令(513、515、517)，以让处理器在下个NVM装置的起始地址处继续执行。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 启动 序列 期间 检测 非易失性存储器 电路 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种用于在与处理器相关联的执行序列期间检测两个或多个非易失性存储(NVM)装置的存在的方法，所述两个或多个NVM装置具有对应的两个或多个预定起始地址，所述方法包括：复位所述处理器，从而当完成所述复位操作时，从与所述两个或多个NVM装置的第一个相关联的所述两个或多个预定起始地址的第一个开始操作；判定包括与所述两个或多个预定起始地址的所述第一个相关联的所述两个或多个NVM装置的所述第一个的所述两个或多个NVM装置的每一个是否存在；以及从与所述两个或多个NVM装置的所述第一个相关联的所述两个或多个预定起始地址的所述第一个进行读取，以及，如果在所述判定中判定所述两个或多个NVM装置的所述第一个不存在，则指示所述处理器在与所述两个或多个NVM装置的第二个相关联的所述两个或多个起始地址的第二个处继续执行。
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