[发明专利]位置检测系统无效

专利信息
申请号: 200680036950.3 申请日: 2006-10-06
公开(公告)号: CN101277640A 公开(公告)日: 2008-10-01
发明(设计)人: 佐藤良次;内山昭夫;木村敦志 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: A61B1/00 分类号: A61B1/00;A61B5/06;A61B5/07
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种位置检测系统,其可以不用事先进行校准测定即能削减位置等的检测时间。该位置检测系统具有:设备,其搭载有磁感应线圈;驱动线圈,其配置在设备的工作范围的外部,具有磁感应线圈的共振频率附近的位置计算用频率,并产生作用于磁感应线圈的交变磁场;多个磁场传感器,其配置在设备的工作范围的外部,并检测由磁感应线圈所产生的感应磁场;振幅分量检测单元(50A),其根据从多个磁场传感器所得到的磁场传感器的输出,检测相位与交变磁场大致正交的振幅分量;以及位置分析单元(50C),其根据振幅分量来计算设备的位置和方向中的至少一方。
搜索关键词: 位置 检测 系统
【主权项】:
1.一种位置检测系统,该位置检测系统具有:设备,其搭载有磁感应线圈;驱动线圈,其产生交变磁场;多个磁场传感器,其配置在所述设备的工作范围的外部,并检测所述磁感应线圈受到所述交变磁场而产生的感应磁场;频率决定部,其求出基于所述磁感应线圈的共振频率的位置计算用频率;振幅分量检测单元,其在所述位置计算用频率处,根据所述多个磁场传感器的输出,检测与所述交变磁场大致正交的振幅分量和相位与所述交变磁场大致相同的振幅分量中的至少一方;以及位置分析单元,其根据所述振幅分量计算所述设备的位置和方向中的至少一方。
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