[发明专利]温度测定装置及温度测定方法有效
| 申请号： | 200680037326.5 | 申请日： | 2006-10-05 |
| 公开（公告）号： | CN101283242A | 公开（公告）日： | 2008-10-08 |
| 发明（设计）人： | 山本义典;坂部至;屉冈英资 | 申请（专利权）人： | 住友电气工业株式会社 |
| 主分类号： | G01K11/12 | 分类号： | G01K11/12 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人： | 何立波;张天舒 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的温度测定装置具有：光源，其输出光；光纤，其输入从该光源输出的光，输出布里渊散射光；检测部，其检测该布里渊散射光的光谱；判定部，其判定由该检测部检测出的布里渊散射光的光谱的频移，是否属于该频移相对于光纤温度的变化率小于规定值的特定区域；以及解析部，其在由判定单元判定前述频移不属于该特定区域的情况下，使用频移解析温度，在由判定部判定频移属于特定区域的情况下，至少使用由检测单元检测出的布里渊散射光的光谱的线宽解析前述温度，或不进行解析。 | ||
| 搜索关键词： | 温度 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种温度测定装置，其特征在于，具有：光源，其输出光；光纤，其输入从前述光源输出的光，输出布里渊散射光；检测单元，其检测前述布里渊散射光的光谱；判定单元，其判定由前述检测单元检测出的前述布里渊散射光的光谱的频移，是否属于该频移相对于前述光纤温度的变化率小于规定值的特定区域；以及解析单元，其在由前述判定单元判定前述频移不属于前述特定区域的情况下，使用前述频移解析前述温度，在由前述判定单元判定前述频移属于前述特定区域的情况下，至少使用由前述检测单元检测出的前述布里渊散射光的光谱的线宽解析前述温度，或不进行解析。
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