[发明专利]利用POTDR轨迹来评估光纤PMD的方法

摘要

揭示了一种利用偏振光学时间域反射计来筛选光纤偏振模色散的方法。将脉冲辐射发射到待测光纤的一端之中，后向散射辐射是用POTDR来测量的并且被用于获取OTDR轨迹。将脉冲辐射发射到待测光纤的相反一端，并且后向散射辐射是用POTDR来测量的并且被用于获取另一个OTDR轨迹。分析这两个轨迹中的任一个或两者都分析，以便比较沿光纤长度的信号强度变化，信号变化涉及沿光纤长度的PMD。

主权项

1.一种用于测量光纤中的偏振模色散的方法，该光纤具有纵轴以及沿该纵轴的长度，所述方法包括：(a)将第一偏振输入光脉冲发送到光纤长度的第一端中，由此使第一后向散射光信号从光纤的第一端出射；(b)通过实现第一后向散射光信号的偏振敏感测量，获得与光纤长度相对应的第一后向散射强度轨迹；(c)将第二偏振输入光脉冲发送到光纤长度的第二端中，由此使第二后向散射光信号从光纤的第二端出射；(d)通过实现第二后向散射光信号的偏振敏感测量，获得与光纤长度相对应的第二后向散射强度轨迹；(e)分析第一后向散射强度轨迹的强度变化，其中该分析步骤包括分析在来自第一后向散射强度轨迹的滑动数据窗口上的强度变化，并且沿光纤长度纵向地移动该数据窗口，同时继续分析该强度变化，由此产生第一强度轨迹变化，其中包括沿光纤长度的局部强度变化的相关信息；(f)分析第二后向散射强度轨迹的强度变化，其中该分析步骤包括分析在来自第二后向散射强度轨迹的滑动数据窗口上的强度变化，并且沿光纤长度纵向地移动该数据窗口，同时继续分析该强度变化，由此产生第二强度轨迹变化，其中包括沿光纤长度的局部强度变化的相关信息；以及(g)通过确定在第二强度轨迹变化和第一强度轨迹变化之间的差的绝对大小，产生与光纤长度相对应的绝对强度变化差轨迹。