[发明专利]用于检测粒子的装置和方法有效

专利信息
申请号: 200680041191.X 申请日: 2006-11-06
公开(公告)号: CN101300472A 公开(公告)日: 2008-11-05
发明(设计)人: 尤金·埃曼特劳特;拉尔夫·比克尔;托尔斯滕·舒尔茨;托马斯·乌尔里希;延斯·图赫舍雷尔 申请(专利权)人: 科隆迪亚戈有限公司
主分类号: G01N15/14 分类号: G01N15/14;G01N21/03;B01L3/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 郑立;林月俊
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及用于粒子的定性和/或定量检测的装置和方法。特别地,本发明涉及用于检测粒子的装置,包括:在第一表面和第二表面之间形成的反应腔,其中第二表面与第一表面相对地设置;以及一个或多个移出器,其中,可以经由至少在第一表面和/或第二表面的表面区域的一个或多个部分中的一个或多个移出器,改变第一表面和第二表面之间的距离。本发明还涉及用于检测粒子的对应方法,包括:将假设包括一种或多种将要检测的粒子的取样布置在反应腔内;经由一个或多个移出器来移出反应腔内的取样的至少一部分;以及检测/确定用来表示一种或多种粒子的存在和/或数目的值。
搜索关键词: 用于 检测 粒子 装置 方法
【主权项】:
1.用于粒子的定性和/或定量检测的装置,包括:(a)反应腔,形成在第一表面和第二表面之间的腔体内,其中,与所述第一表面相对地设置所述第二表面;以及(b)一个或多个移出器,其中,至少在所述第一表面和/或所述第二表面的表面区域的一个或多个部分,可借助于所述一个或多个移出器来改变所述第一表面和所述第二表面之间的距离。
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