[发明专利]投影缺陷和检查位置的系统及相关方法有效
| 申请号： | 200680045229.0 | 申请日： | 2006-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN101322071A | 公开（公告）日： | 2008-12-10 |
| 发明（设计）人： | 约翰·W·帕尔马蒂尔;艾伦·S·洛克 | 申请（专利权）人： | 波音公司 |
| 主分类号： | G03B29/00 | 分类号： | G03B29/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 黄小临 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了一种将图像投影在工件上的系统和方法。该系统包括能够提供指示工件内的缺陷的信息的数据系统，其中该信息基于由至少一个传感器获取的数据。该系统也包括图像投影设备，其与该数据系统通信并能够将指示缺陷的图像投影在工件上，该系统还包括多个编码器，用于确定图像投影设备的位置和/或方位。 | ||
| 搜索关键词： | 投影 缺陷 检查 位置 系统 相关 方法 | ||
【主权项】：
1、一种光投影系统，包括：数据系统，能够提供指示工件内的缺陷的信息，其中该信息基于由至少一个传感器获取的数据；图像投影设备，与该数据系统通信并且能够将指示缺陷的图像投影在工件上；以及多个编码器，用于确定该图像投影设备的位置和方位中的至少一个。
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