[发明专利]具有正交加速的多次发射飞行时间质谱仪有效

专利信息
申请号: 200680045703.X 申请日: 2006-10-11
公开(公告)号: CN101366097A 公开(公告)日: 2009-02-11
发明(设计)人: A·N·沃恩特奇科夫;M·I·雅格;Y·卡·辛 申请(专利权)人: 莱克公司
主分类号: H01J49/00 分类号: H01J49/00;B01D59/44;G21K7/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 秦晨
地址: 美国密*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了一种多次反射飞行时间质谱仪(MR-TOF MS)(11),包括一对无网格离子镜(12)、漂移空间(13)、正交离子加速器(14)、可任选的偏转器(15)、离子检测器(16)、周期透镜组(17)、以及边缘偏转器(18)。为了提高MR-TOF MS中的由长飞行限定的低重复率的离子注入的占空比,可以进行多路测量。输入的离子束和加速器可以基本取向为穿过MR-TOF中的离子路径,同时通过倾斜加速器以及使离子束转向相同角度对离子束的初始速度进行补偿。为了进一步提高任何多次反射或多次返回质谱仪的占空比,可以通过离子导向器对轴向离子速度进行调制来对离子束进行时间压缩。可以通过将离子束捕获在静电阱中来提高离子在加速器中的驻留时间。在加速器中具有延长驻留时间的设备对灵敏度和分辨率均进行了提高。
搜索关键词: 具有 正交 加速 多次 发射 飞行 时间 质谱仪
【主权项】:
1.一种多次反射飞行时间质谱仪(MR-TOF MS),包括:离子源,用于产生离子束;正交加速器,将所述离子束变换成离子群;接口,用于在所述离子源与所述正交加速器之间进行离子传递;以及平面多次反射分析仪,在竖锯状轨迹平面内对所述离子群提供多次反射,其中,通过所述接口的所述离子束基本上穿过所述轨迹平面进行取向。
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