[发明专利]新型集成电路支撑结构及其制作方法有效
申请号: | 200680046501.7 | 申请日: | 2006-10-15 |
公开(公告)号: | CN101496227A | 公开(公告)日: | 2009-07-29 |
发明(设计)人: | D·胡尔维茨;M·法卡施;E·埃格纳;A·蔡德勒;B·麦考利;B·斯坦特尼科夫 | 申请(专利权)人: | Amitec多层互连技术有限公司 |
主分类号: | H01R12/04 | 分类号: | H01R12/04 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 | 代理人: | 赵 军;张颖玲 |
地址: | 以色列*** | 国省代码: | 以色列;IL |
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摘要: | 制作电子基板的方法包括步骤:(A)选择第一基片层;(B)在第一基片层上沉积第一防刻蚀阻挡层;(C)构建交叠传导层和绝缘层的第一半叠层,传导层通过贯穿绝缘层的通孔互连;(D)在第一半叠层之上形成第二基片层;(E)在第二基片层上形成光刻胶保护膜;(F)刻蚀掉第一基片层;(G)去除光刻胶保护膜;(H)去除第一防刻蚀阻挡层;(I)构建交叠传导层和绝缘层的第二半叠层,传导层通过贯穿绝缘层的通孔互连,其中第二半叠层与第一半叠层实质上对称接合;(J)在第二半叠层之上形成绝缘层;(K)去除第二基片层;以及(L)在叠层外表面暴露出通孔末端并在所述通孔末端形成端接。 | ||
搜索关键词: | 新型 集成电路 支撑 结构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1、一种制作电子基板的方法,包括制作全叠层的如下步骤:(A)选择第一基片层;(B)在所述第一基片层上沉积第一防刻蚀阻挡层;(C)构建交叠传导层和绝缘层的第一半叠层,传导层通过贯穿绝缘层的通孔互连;(D)在所述第一半叠层之上形成第二基片层;(E)在所述第二基片层上形成光刻胶保护膜;(F)刻蚀掉所述第一基片层;(G)去除光刻胶保护膜;(H)去除所述第一防刻蚀阻挡层;(I)构建交叠传导层和绝缘层的第二半叠层,传导层通过贯穿绝缘层的通孔互连,其中第二半叠层与第一半叠层实质上对称接合;(J)在所述交叠传导层和绝缘层的第二半叠层之上形成绝缘层;以及(K)去除所述第二基片层。
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