[发明专利]用于校准发射系统的方法和系统无效

专利信息
申请号: 200680046558.7 申请日: 2006-12-06
公开(公告)号: CN101326722A 公开(公告)日: 2008-12-17
发明(设计)人: 沃尔弗拉姆·德雷舍尔 申请(专利权)人: NXP股份有限公司
主分类号: H03L7/10 分类号: H03L7/10;H04B1/69
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 陈源;张天舒
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及用于校准发射系统(1)的方法和系统,该发射系统(1)用于将数据从介质访问控制设备(2)经数字接口(IF1)发射至物理层(PHY)并且发射至天线(3)以进入传输线(4),其中物理层(PHY)包括基带控制器(5)以及包含多个功能模块(FB1到FB13)的数据处理流水线(6),所述方法包括如下步骤:设置校准控制寄存器(R),接着将发射系统(1)设置为校准模式,其中该发射系统(1)产生预定数量的单一测试音调(T)并且顺次发射这些测试音调(T),以及在发射这些测试音调(T)之后,检测返回的测试音调(T),并且对它们的电平尤其是它们的功率电平以及传输线(4)的频谱特性进行测量。
搜索关键词: 用于 校准 发射 系统 方法
【主权项】:
1.用于校准发射系统(1)的方法,该发射系统(1)用于将数据从介质访问控制设备(2)经数字接口(IF1)发射至物理层(PHY)并且发射至天线(3)以进入传输线(4),其中物理层(PHY)包括基带控制器(5)以及包含多个功能模块(FB1到FB13)的数据处理流水线(6),所述方法包括如下步骤:设置校准控制寄存器(R),接着将发射系统(1)设置为校准模式,其中该发射系统(1)产生预定数量的单一测试音调(T)并且顺次发射这些测试音调(T),以及在发射这些测试音调(T)之后,检测返回的测试音调(T),并且对它们的电平尤其是它们的功率电平以及传输线(4)的频谱特性进行测量。
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