[发明专利]坏点处理装置

摘要

本发明公开了一种坏点处理装置。所述坏点处理装置将输入的拜尔模式图像分成相应的分量数据；基于各数据的中值来计算像素分布(图案)；基于具有中心像素的分量来计算比较值；利用所述比较值来输出通知是否存在坏点和/或热点的外部标志；对具有所述中心像素的分量中的中心像素与相邻像素的值进行比较；基于所述中心像素来计算测量值；通过利用所述测量值来输出内部标志；以及校正坏点或热点。通过本发明，可以通过检测相应的坏点和热点来校正图像。

主权项

1、一种坏点处理装置，该坏点处理装置包括：分离单元，其将输入的拜尔模式图像分成相应的分量数据；以及比较单元，其基于各数据的中值来计算像素的分布(图案)，基于具有中心像素的分量来计算比较值，利用该比较值来输出通知是否存在坏点和/或热点的外部标志，对具有中心像素的分量中的中心像素的值与相邻像素的值进行比较；基于该中心像素来计算测量值；并利用该测量值来输出内部标志，其中该比较单元包括：中心值检测单元，其检测所述分量数据中的各中值；第一绝对值检测单元，其检测从各元素减去所述中值所取得的值的绝对值；差值检测值，其检测差值，即，从该第一绝对值检测单元针对具有中心像素的分量数据的输出数据减去该第一绝对值检测单元针对除所述具有中心像素的分量数据以外的分量数据的输出数据所取得的各值的绝对值；比较值检测单元，其对该差值检测单元的输出进行求和，并且针对每个元素检测分量数据的比较值；外部标志生成单元，其将该比较值与各个坏点阈值和热点阈值进行比较，并且生成与是否存在坏点阈值和/或热点阈值相关的外部标志；第二绝对值检测单元，其检测从具有中心像素的分量数据的各元素减去该中心像素值所取得的值的绝对值；以及内部标志生成单元，其利用亮度分类用的阈值和该分量数据的中值来设定内部标志阈值，并且利用该阈值来生成内部标志。