[发明专利]测定介质中化合物的同一性或不同性和浓度的方法无效
| 申请号： | 200680050005.9 | 申请日： | 2006-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN101351688A | 公开（公告）日： | 2009-01-21 |
| 发明（设计）人： | R·森斯;C·瓦姆瓦卡瑞斯;W·阿勒斯;E·蒂尔 | 申请（专利权）人： | 巴斯夫欧洲公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01N21/31;G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 刘金辉;张雪珍 |
| 地址： | 德国路*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种检测至少一种含在介质(312)中的化合物V的方法。所述方法包括用于测定V是否含在介质(312)中的检验步骤(420)。所述方法另外包括测定至少一种化合物V的浓度c的分析步骤(424)。检验步骤包括如下子步骤：(a1)介质(312)曝露于可变波长λ的第一种分析辐射(316)下，其中波长λ假定为至少两个不同值；(a2)相应于第一种分析辐射(316)，借助由介质(312)吸收和/或发射和/或反射和/或散射的辐射(324、326)产生至少一种谱响应函数A(λ)；(a3)通过至少一种谱响应函数A(λ)与至少一种模式函数R(λ+δλ)比较形成至少一种谱关联函数K(δλ)，其中至少一种模式函数R(λ)表示含化合物V的介质(312)的谱测量函数，δλ表示坐标位移；(a4)在模式识别步骤(418)中检查至少一种谱关联函数K(δλ)，并且做出关于至少一种化合物V是否含在介质(312)中的结论；分析步骤(424)包括如下子步骤：(b1)介质(312)曝露于具有至少一种激发波长λEX的至少一种第二种分析辐射(318)下；(b2)与波长λEX的第二种分析辐射(318)响应，借助介质(312)吸收和/或发射和/或反射和/或散射的响应波长λEX的辐射(326)产生至少一种谱分析函数B(λEX，λRES)并由此导出浓度c。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 介质 化合物 同一性 同性 浓度 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检测至少一种含在介质(312)中的化合物V的方法，其包括用于测定V是否含在介质(312)中的检验步骤(420)，另外包括测定至少一种化合物V的浓度c的分析步骤(424)，-其中检验步骤包括如下子步骤：(a1)介质(312)曝露于可变波长λ的第一种分析辐射(316)下，其中波长λ假定为至少两个不同值；(a2)响应于第一种分析辐射(316)，借助由介质(312)吸收和/或发射和/或反射和/或散射的辐射(324、326)产生至少一种谱响应函数A(λ)；(a3)通过至少一种谱响应函数A(λ)与至少一种模式函数R(λ+δλ)谱比较形成至少一种谱关联函数K(δλ)，其中至少一种模式函数R(λ)表示含化合物V的介质(312)的谱测量函数，δλ表示坐标位移；(a4)在模式识别步骤(418)中检查至少一种谱关联函数K(δλ)，并且做出关于至少一种化合物V是否含在介质(312)中的结论；-分析步骤(424)包括如下子步骤：(b1)介质(312)曝露于具有至少一种激发波长λEX的第二种分析辐射(318)下；(b2)响应于波长λEX的第二种分析辐射(318)，借助由介质(312)吸收和/或发射和/或反射和/或散射的响应波长λEX的辐射(324、326)产生至少一种谱分析函数B(λEX，λRES)并由此导出浓度c。
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