[发明专利]带相干反馈的光学系统无效
| 申请号： | 200680052579.X | 申请日： | 2006-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN101632048A | 公开（公告）日： | 2010-01-20 |
| 发明（设计）人： | A·萨里尔;E·摩西;E·康福蒂;S·莱维特;J·加西亚;Y·赫费茨 | 申请（专利权）人： | 伦斯雷特有限公司 |
| 主分类号： | G03H1/10 | 分类号： | G03H1/10 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 柯广华;魏 军 |
| 地址： | 以色列拉莫*** | 国省代码： | 以色列;IL |
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| 摘要： | 本发明公开一种对光场振幅灵敏的光测量系统。该系统使用干涉仪，同时反馈回路将从干涉仪的至少一个光输出出射的光强度保持在低水平。因此降低了干涉仪的输出处的检测器的散粒噪声，从而能够无需更强的光源而实现高速和高精确度测量。该测量系统可以在光计算中使用。 | ||
| 搜索关键词： | 相干 反馈 光学系统 | ||
【主权项】：
1.一种使用相干反馈的光测量系统，包括：相干光源；分束器，其设在发自所述相干光源的光的光路上；至少一个光调制变换器，其沿发自所述分束器的光的第一光路设置；至少一个反馈光调制器，其沿发自所述分束器的光的第二光路设置；至少一个干涉仪，其从所述第一和第二光路接收光；至少一个光检测器，其从所述干涉仪接收光；以及反馈回路，其从所述检测器接收信号，并将信号传送到所述反馈光调制器；其中所述光调制变换器和所述一个反馈光调制器分别对光的所述第一和第二光路中的光强度起作用，且其中所述反馈回路在至少一个光检测器上保持最小光强度。
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