[发明专利]荧光X射线分析装置有效
| 申请号： | 200680054176.9 | 申请日： | 2006-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN101416047A | 公开（公告）日： | 2009-04-22 |
| 发明（设计）人： | 片冈由行;河野久征;山下升;堂井真 | 申请（专利权）人： | 理学电机工业株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京三幸商标专利事务所 | 代理人： | 刘激扬 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种分析试样中包含的硫磺的荧光X射线分析装置，其目的在于通过大幅度地减少来自X射线管的连续X射线的试样的散射X射线和比例计数管的氩气的逃逸峰值，提高极微量的硫磺的分析精度。一种荧光X射线分析装置(1)，其对试样(S)照射来自X射线管的一次X射线，通过分光元件，对从试样(S)产生的荧光X射线进行分光，通过X射线检测器进行检测，由此，对试样(S)进行分析，该装置包括X射线管(11)，该X射线管(11)具有含铬的靶；X射线滤波器(13)，其设置于X射线管(11)和试样(S)之间的X射线通路，相对来自X射线管(11)的Cr-Kα射线，具有规定的透射率，采用在S-Kα射线和Cr-Kα射线的能量之间不存在吸收端的元素的材质；比例计数管(18)，其具有含氖气或氦气的检测器气体，该装置对试样(S)中包含的硫磺进行分析。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 射线 分析 装置 | ||
【主权项】：
1. 一种荧光X射线分析装置，其对试样照射来自X射线管的一次X射线，通过分光元件对从上述试样发生的荧光X射线进行分光，通过X射线检测器检测，由此，对上述试样进行分析，其特征在于包括：X射线管，该X射线管具有含铬的靶；X射线滤波器，其设置于上述X射线管和上述试样之间的X射线通路，相对来自上述X射线管的Cr-Kα射线，具有规定的透射率，采用在S-Kα射线和Cr-Kα射线的能量之间不存在吸收端的元素的材质；比例计数管，其具有含氖气或氦气的检测器气体；该装置对上述试样中包含的硫磺进行分析。
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