[发明专利]超声波探头、超声波探伤方法及超声波探伤装置有效

专利信息
申请号: 200680054861.1 申请日: 2006-04-05
公开(公告)号: CN101460838A 公开(公告)日: 2009-06-17
发明(设计)人: 山野正树 申请(专利权)人: 住友金属工业株式会社
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种超声波探头,从高t/D金属管的中心位置看,使超声波从振子斜着射入金属管,通过产生在金属管的内部传播的折射纵波及折射横波,从而对金属管进行探伤。振子的前端部至少具有曲率半径从一端侧到另一端侧连续增加的非对称曲线形状的部分。将超声波探头与金属管按如下状态配置进行斜角探伤,曲率半径较小的端部侧位于折射波的非传播方向侧,而曲率半径较大的端部侧位于折射波的传播方向侧,并发送可生成未到达金属管内壁的折射纵波和在金属管内壁聚焦的折射横波的入射波。通过斜角探伤,可高精度而且切实地探查壁厚(t)与外径(D)之比(t/D)是15%以上的高t/D金属管内部存在的微小缺陷,而且不会造成检查效率降低和成本上升。
搜索关键词: 超声波 探头 探伤 方法 装置
【主权项】:
1、一种超声波探头,使超声波从内置于所述超声波探头的振子斜着射入金属制的管状被检体,通过产生在所述管状被检体的内部传播的折射纵波及折射横波,从而对所述管状被检体进行探伤,所述振子的前端部,至少具有曲率半径从一端侧到另一端侧连续增加的非对称曲线形状的部分。
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