[发明专利]增强型统计测量分析和报告无效

专利信息
申请号: 200680055338.0 申请日: 2006-07-14
公开(公告)号: CN101484896A 公开(公告)日: 2009-07-15
发明(设计)人: S·E·帕巴拉特;J·R·阿姆斯保;C·M·雷博克;B·S·伯特尔;R·P·萨罗 申请(专利权)人: 埃森哲环球服务有限公司
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 王茂华
地址: 瑞士沙*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 接收与项目相关的项目信息,该项目信息标识项目类型、授权写入实体和授权批准实体,以及至少基于项目类型选择有效度量,该有效度量测量项目的性能的一个方面。从授权写入实体接收与有效度量相对应的基础测量,该基础测量还包括与至少一个度量时段对应的周期性基础测量、以及与非周期性事件相对应的非周期性基础测量,并基于基础测量来计算有效度量。将基础测量分类为排除基础测量和非排除基础测量,导入组织基线数据,并基于非排除基础测量和组织基线数据计算组织指示符。
搜索关键词: 增强 统计 测量 分析 报告
【主权项】:
1. 一种方法,包括:接收与项目相关的项目信息,所述项目信息标识项目类型、授权写入实体和授权批准实体;至少基于所述项目类型选择有效度量,所述有效度量测量所述项目的性能的一个方面;从所述授权写入实体接收与有效度量相对应的基础测量,所述基础测量进一步包括与至少一个度量时段对应的周期性基础测量、以及与非周期性事件相对应的非周期性基础测量;基于所述基础测量计算所述有效度量;将所述基础测量分类为排除基础测量和非排除基础测量;导入组织基线数据;基于所述非排除基础测量和组织基线数据计算组织指示符;经由所述授权批准实体来批准有效度量和至少一部分基础测量,由此分别生成批准的度量和批准的基础测量;以及输出所述有效度量或所述批准的度量以及所述组织指示符。
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