[发明专利]利用环回测试存储系统电子器件有效
| 申请号： | 200710000255.8 | 申请日： | 2007-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN101004919A | 公开（公告）日： | 2007-07-25 |
| 发明（设计）人： | 帕恩塔斯·苏塔迪嘉 | 申请（专利权）人： | 马维尔国际贸易有限公司 |
| 主分类号： | G11B5/09 | 分类号： | G11B5/09;G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王怡 |
| 地址： | 巴巴多斯*** | 国省代码： | 巴巴多斯;BB |
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| 摘要： | 一种系统包括控制硬盘的硬盘控制器(HDC)模块和经由读总线和写总线与HDC模块通信的读通道(RC)器件。RC器件包括环回电路，该环回电路有选择地将写总线环回到读总线。RC器件为HDC模块生成用于在写总线上写数据的写时钟和为HDC模块生成用于在读总线上读数据的读时钟，其中写时钟独立于读时钟。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 测试 存储系统 电子器件 | ||
【主权项】：
1.一种系统，包括：硬盘控制器模块，其控制硬盘；以及读通道器件，其经由读总线和写总线与所述硬盘控制器模块通信，包括有选择地将所述写总线环回到所述读总线的环回电路，为所述硬盘控制器模块生成用于在所述写总线上写数据的写时钟，并且为所述硬盘控制器模块生成用于在所述读总线上读数据的读时钟，其中所述写时钟独立于所述读时钟。
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