[发明专利]改善变形的半导体封装基板有效

专利信息
申请号: 200710000296.7 申请日: 2007-01-23
公开(公告)号: CN101231985A 公开(公告)日: 2008-07-30
发明(设计)人: 李明勋;洪宗利 申请(专利权)人: 南茂科技股份有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H05K1/02
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种改善变形的半导体封装基板,主要包括一可挠性介电层、多数个引脚、至少一补强金属图案以及一防焊层。该些引脚与该补强金属图案皆形成于该可挠性介电层的同一表面上,而该补强金属图案用以填补该可挠性介电层的引脚留白区。该防焊层形成于该可挠性介电层上,以局部覆盖该些引脚,并依不同应用可覆盖或显露该补强金属图案。藉由该补强金属图案的形成位置与如网状形状可防止该可挠性介电层产生皱折或变形的问题。
搜索关键词: 改善 变形 半导体 封装
【主权项】:
1.一种改善变形的半导体封装基板,其特征在于包括:一可挠性介电层;多数个引脚,其形成于该可挠性介电层上;至少一补强金属图案,其形成于该可挠性介电层上,以填补该可挠性介电层的引脚留白区,其中该补强金属图案为网状;以及一防焊层,其形成于该可挠性介电层上,以局部覆盖上述的引脚。
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