[发明专利]用于大基板的低-K介电层无效

专利信息
申请号: 200710000796.0 申请日: 2007-02-09
公开(公告)号: CN101054660A 公开(公告)日: 2007-10-17
发明(设计)人: 迈克尔·W·斯托厄尔;乔斯·M·迭格斯-坎波;迈克尔·里尔 申请(专利权)人: 应用材料股份有限公司
主分类号: C23C16/513 分类号: C23C16/513;C23C16/52;C23C16/40;C03C17/245;H01L21/02
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 徐金国;梁挥
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了一种用于生成薄膜的系统和方法。所述工艺的一实施方式包括以下工序:提供包括玻璃板、电极的基板;以及母线;将所述基板加热至近似临界温度;当所述基板接近所述近似临界温度时开始所述沉积工艺,从而在基板上沉积薄膜;在所述化学气相沉积工艺进行的同时,使所述薄膜的上部分维持在约所述临界温度;一旦所述薄膜达到预期的厚度就终止所述沉积工艺;以及冷却所述基板和所沉积的薄膜。
搜索关键词: 用于 大基板 介电层
【主权项】:
1.一种利用PECVD沉积介电层的方法,该方法包括:将基板加热至近似临界温度,其中所述临界温度对应前驱物气体;在大约基板接近临界温度时,将所述前驱物气体导入工艺腔室;分解所述前驱物气体,从而形成沉积材料;以及沉积所述沉积材料从而形成薄膜。
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