[发明专利]电光装置、其制造方法以及电子设备无效
申请号: | 200710001367.5 | 申请日: | 2007-01-11 |
公开(公告)号: | CN101000442A | 公开(公告)日: | 2007-07-18 |
发明(设计)人: | 小山登 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G02F1/1362 | 分类号: | G02F1/1362;G02F1/133;H01L27/12;H01L21/84 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 陈海红;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的电光装置,使制造过程中的成品率提高,并进行高质量的图像显示。电光装置,具备:布线于基板上的像素区域的多条数据线(6a)及多条扫描线(3a);在基板上,在像素区域中,在每个像素部与数据线及扫描线电连接所形成,并具有从上层侧实施了氢化处理的半导体层的晶体管(30);在基板上,在每个像素部电连接于晶体管,与晶体管相比配置于下层侧所形成的存储电容(70);和在基板上,在每个像素部,与晶体管及存储电容电连接所形成的像素电极(9a)。 | ||
搜索关键词: | 电光 装置 制造 方法 以及 电子设备 | ||
【主权项】:
1.一种电光装置,其特征在于,具备:基板;布线于该基板上的像素区域的多条数据线及多条扫描线;晶体管,其在前述基板上,在前述像素区域中在每个像素部,与前述数据线及前述扫描线电连接地形成,并具有从上层侧实施了氢化处理的半导体层;存储电容,其在前述基板上,在每个前述像素部,电连接于前述晶体管,与前述晶体管相比配置于下层侧地形成;和像素电极,其在前述基板上,在每个前述像素部,与前述晶体管及前述存储电容电连接地形成。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工爱普生株式会社,未经精工爱普生株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710001367.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:除去光致抗蚀剂残余物的pH缓冲含水清洁组合物和方法
- 下一篇:多原色显示装置