[发明专利]共焦点显微镜及采用它的荧光测量方法和偏振光测量方法

摘要

本发明的共焦点显微镜以及利用它的荧光测量方法和偏振光测量方法，它具有：入射光学系统(10、10′)，使偏振光从照明光源(11)经过把微透镜阵列(21)配置在上部的矩阵式液晶器件(22)和物物(23)而入射到被观察物2内；检测光学系统(30、30′)，检测从被观察物来的反射光或荧光；以及液晶控制部(52)，控制液晶器件(22)，其特征在于：使每个透射了微透镜阵列(21)的微透镜的光透射液晶器件(22)的各像素(22a)，利用物镜(23)使多个焦点(24)形成在被观察物(2)上，并且，利用液晶控制部(52)来对透射液晶器件(22)的各像素的光的偏振光方向进行控制，使透射各像素的光的偏振光方向互相垂直。

主权项

1、一种采用液晶的共焦点显微镜，具有：入射光学系统，从照明光源将经光强度调制的偏振光通过矩阵式液晶器件和物镜入射到被观察物，在所述矩阵式液晶器件的上部配置有光束分离器、微透镜阵列；检测光学系统，包含摄像器件，该摄像器件通过上述光束分离器和透镜来检测来自被观察物的反射光或荧光；以及控制系统，包括对上述矩阵式液晶器件的各像素进行控制的液晶控制部、以及上述照明光源的光强度调制控制部，其特征在于，使每个透射了上述微透镜阵列的微透镜的光，透射上述矩阵式液晶器件的各像素，利用上述物镜在上述被观察物上结成多个焦点，并且，利用上述液晶控制部，将透射上述矩阵式液晶器件的各像素的光的偏振光方向控制成互相垂直，通过把来自被观察物的反射光或者荧光的光强度调制信号变换成频率信号，进行检测。