[发明专利]芯片测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 200710002298.X | 申请日： | 2007-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN101004437A | 公开（公告）日： | 2007-07-25 |
| 发明（设计）人： | 苏俊源;徐祥哲;叶碧云;赖瑾 | 申请（专利权）人： | 威盛电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3177;G01R31/319;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 蒲迈文;黄小临 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明为一种集成电路芯片及测试方法，其包含：一核心逻辑功能电路；一控制信号产生器，连接至核心逻辑功能电路，根据一触发讯号发出一信息交换讯号；一测试信号产生器，连接至核心逻辑功能电路，产生一测试信号至核心逻辑功能电路，其中测试信号中包含有一第一数据与一第二数据，而第二数据是由第一数据进行运算所得；以及一测试信号验证器，连接至核心逻辑功能电路，接收核心逻辑功能电路送出的测试信号，并根据所接收的测试信号的第一数据进运算而得到一第三数据；其中测试信号验证器比较第三数据以及第二数据，以判断核心逻辑功能电路是否正常工作。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试系统，包含：一核心逻辑功能电路；一控制信号产生器，连接至该核心逻辑功能电路，用以根据一触发讯号发出一信息交换讯号；一测试信号产生器，连接至该核心逻辑功能电路，产生一测试信号至该核心逻辑功能电路，其中该测试信号中包含有一第一数据与一第二数据，该第二数据是由该第一数据进行运算所得；以及一测试信号验证器，连接至该核心逻辑功能电路，接收该核心逻辑功能电路送出的该测试信号，并根据所接收的该测试信号的第一数据进运算而得到一第三数据；其中该测试信号验证器比较该第三数据以及该第二数据，以判断该核心逻辑功能电路是否正常工作。
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