[发明专利]用于检测半导体存储器装置内同步模式的电路及方法无效
| 申请号： | 200710003211.0 | 申请日： | 2007-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN101034586A | 公开（公告）日： | 2007-09-12 |
| 发明（设计）人： | 李相权 | 申请（专利权）人： | 海力士半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C7/10 | 分类号： | G11C7/10 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 杨生平;杨红梅 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于检测半导体存储器装置内同步模式的电路，包括：控制单元，其根据有效地址信号是否被使能来控制时钟的驱动；驱动单元，其根据控制单元的控制来驱动时钟；锁存单元，其锁存由驱动单元驱动的时钟并输出同步模式信号。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 半导体 存储器 装置 同步 模式 电路 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测半导体存储器装置内同步模式的电路，所述电路包括：控制单元，其配置成根据有效地址信号是否被使能来控制时钟的驱动；驱动单元，其配置成根据所述控制单元的所述控制来驱动所述时钟；以及锁存单元，其配置成锁存由所述驱动单元所驱动的所述时钟，并输出同步模式信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于海力士半导体有限公司，未经海力士半导体有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200710003211.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
