[发明专利]自动分析装置无效

专利信息
申请号: 200710004297.9 申请日: 2007-01-22
公开(公告)号: CN101008616A 公开(公告)日: 2007-08-01
发明(设计)人: 西墙宪一;石泽雅人;亘重范 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N21/59 分类号: G01N21/59;G01N35/00;G01N33/48
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人: 张敬强
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供具备了不需要检测板的反应容器位置的检测功能和消除由反应容器中的异物引起的对吸光度的影响的功能的自动分析装置。本发明的自动分析装置具有:贮存反应液的反应容器;发出透射所述反应液的透射光的光源;对所述透射光进行测光的分光检测器;存储用所述分光检测器测出的测光数据的存储器;以及对储存在所述存储器内的测光数据进行光度运算的CPU,其特征在于,利用所述分光检测器的测光,在横跨所述反应容器的一端到另一端的全部区间内对滞留有所述反应液的部位进行检测,将所测出的测光数据存储在所述存储器内,并从储存在所述存储器内的测光数据中求出所述反应液所存在的区间的数据后进行所述光度运算。
搜索关键词: 自动 分析 装置
【主权项】:
1.一种自动分析装置,检测透射反应容器的反应液的透射光,其特征在于,在横跨所述反应容器的一端到另一端的全部区间内对滞留有所述反应液的部位进行所述透射光的测光。
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