[发明专利]光学气体检测装置无效
申请号: | 200710005194.4 | 申请日: | 2007-02-15 |
公开(公告)号: | CN101029865A | 公开(公告)日: | 2007-09-05 |
发明(设计)人: | 吉田贵彦 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | G01N21/33 | 分类号: | G01N21/33;G01N21/61 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 张文达 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种用于测量待测的气体的浓度的光学气体检测装置(100)包括:用于照射紫外线的光源(110);用于检测所照射的紫外线的检测元件(120);和光路,所照射的紫外线通过该光路从光源(110)传送到检测元件(120)。待测气体被引入所述光路,并吸收在一吸收带内的被照射的紫外线部分。所述检测元件(120)检测气体的吸收率,以测量气体的浓度。 | ||
搜索关键词: | 光学 气体 检测 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于测量待测的气体的浓度的光学气体检测装置(100),该光学气体检测装置(100)包括:用于照射紫外线的光源(110);用于检测所照射的紫外线的检测元件(120);和光路,所照射的紫外线通过该光路从光源(110)传送到检测元件(120),其中待测气体被引入所述光路,并吸收了在一吸收带内的被照射的紫外线部分,并且所述检测元件(120)检测气体的吸收率,以测量气体的浓度。
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