[发明专利]具有电池的半导体器件无效

专利信息
申请号: 200710005972.X 申请日: 2007-02-15
公开(公告)号: CN101026147A 公开(公告)日: 2007-08-29
发明(设计)人: 朱耿嬉;吕寅硕 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L25/00 分类号: H01L25/00;H01L23/488;H01M6/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 林宇清;谢丽娜
地址: 韩国京畿道水*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 引入大容量微电池的伪非易失性存储器件的实施例,包括具有键合焊盘的DRAM。该DRAM芯片可以被连接到框架。该框架可以具有对应于每个键合焊盘的外部连接端子。用于将该键合焊盘电连接到外部连接端子的布线。键合焊盘和布线可以用密封剂覆盖。在DRAM芯片之上可以设置微电池。该微电池可以提供电源到DRAM芯片。
搜索关键词: 具有 电池 半导体器件
【主权项】:
1.一种伪非易失性存储器件,包括:具有键合焊盘的DRAM芯片;具有对应于该键合焊盘的外部连接端子的框架,该框架被连接到DRAM芯片;用于将外部连接端子分别电连接到该键合焊盘的布线;以及用于提供电源给DRAM芯片的微电池,该微电池位于DRAM芯片之上。
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