[发明专利]半导体存储装置无效
申请号: | 200710006228.1 | 申请日: | 2007-02-07 |
公开(公告)号: | CN101017827A | 公开(公告)日: | 2007-08-15 |
发明(设计)人: | 金森宏治 | 申请(专利权)人: | 恩益禧电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;G11C16/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李香兰 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种半导体存储装置,具备驱动电路(22),其对施加到基板(1)、选择栅(SG0、SG1)、局部位线(LB2)、和控制栅(CGn)的电压进行控制。驱动电路(22)在改写动作时,对控制栅(CGn)施加负电压,对选择栅(SG0)施加正电压,对选择栅(SG1)施加比选择栅(SG0)的电压低的电压,对局部位线(LB2)施加正电压,由此进行通过FN隧道效应而将电子从浮置栅(FG3)选择性吸引到局部位线(LB2)的控制。由此,即使存储单元被微细化,也能确保足够的动作容限。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体存储装置,其中具备:第一选择栅,其配设于基板上的第一区域;第一存储节点,其配设于与所述第一区域邻接的第二区域;局部位线,其配设于与所述第二区域邻接的第三区域;第二存储节点,其配设于与所述第三区域邻接的第四区域;第二选择栅,其配设于所述基板上与所述第四区域邻接的第五区域;控制栅,其配设于所述第一存储节点和所述第二存储节点上;和驱动电路,其对施加到所述基板、所述第一选择栅、所述局部位线、所述第二选择栅、和所述控制栅的电压进行控制,所述驱动电路在改写动作时,对所述控制栅施加负电压,对所述第二选择栅施加正电压,对所述第一选择栅施加比所述第二选择栅的电压低的电压,对所述局部位线施加正电压,由此进行通过FN隧道效应而将电子从所述第一存储节点选择性吸引到所述局部位线的第一控制。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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